Š. m. birželio 27 d. 15 val. LMA Mažojoje salėje vyks paskaita „Rentgeno spindulių kompiuterinė mikrotomografija – nauja priemonė šiuolaikiniams medžiagų tyrimams“ (angl. „X-ray Computed Micro-Tomography - A New Tool for Today's Materials Research“), kurią skaitys mokslininkas, atstovaujantis vieną geriausių universitetų pasaulyje, prof. dr. Artūras Vailionis (Stanfordo universitetas, JAV). Paskaitos, skirtos plačiajai auditorijai, metu bus pristatyta rentgeno mikroskopija kaip 3D vaizdavimo įrankis, aptarta jos dabartinė praktika, supažindinta su ateities galimybėmis taikant pastarąjį tyrimo metodą medžiagotyroje, medicinoje, odontologijoje, archeologijoje, kriminaliniuose tyrimuose, produkcijos kokybės kontrolėje, sunkiųjų įrengimų nusidėvėjimui vertinti.
Birželio 28 d. 15 val. Lazerinių tyrimų centro 306 auditorijoje (Saulėtekio al. 10) vyks daugiau techninio pobūdžio seminaras „Rentgeno spindulių kompiuterinė mikrotomografija – principai ir taikymai“ (angl. „X-ray Computed Micro-Tomography - Principles and Applications”), kurio metu mokslininkas prof. dr. Artūras Vailionis supažindins su pagrindiniais rentgeno spindulių kompiuterinės mikrotomografijos (µ-XCT) ypatumais bei taikymais, svarbiausiais laboratorinio µ-XCT prietaiso veikimo principais ir kaip jį galima panaudoti medžiagų tyrimų reikmėms (santrauka).
Prof. dr. Artūras Vailionis skaitys pranešimą ir ves seminarą pagal Baltijos-Amerikos Dialogo programą (angl. Baltic-American Dialogue Program, BAFF), skirtą JAV gyvenančių lektorių atvykimui į Lietuvą ir mokslinio bendradarbiavimo skatinimui tarp JAV ir Lietuvos universitetų.
